世界初反転型SiC-MOSFET実現:松波弘之教授が語る芝原健太郎の歩み The First Successful Inversion-Type SiC-MOSFET: Prof. Hiroyuki Matsunami on the Career of Kentaro Shibahara
世界初反転型SiC-MOSFET実現:松波弘之教授が語る芝原健太郎の歩み The First Successful Inversion-Type SiC-MOSFET: Prof. Hiroyuki Matsunami on the Career of Kentaro Shibahara
1986年の世界初となるSiC-MOSFETの動作実証は、当時博士課程の学生であった芝原健太郎氏が主体的に取り組み、成し遂げた歴史的な研究成果です。研究室を主宰されていた松波弘之教授(京都大学名誉教授)は自身の寄稿文の中で、このデバイスの作製から動作実証に至るまでの画期的な成功は、ひとえに芝原氏の献身的な努力によって実現されたものであると、深い敬意を込めて具体的に明記されています。 また松波教授は、この分野最大のマイルストーンである「ステップ制御エピタキシー」の成果により、芝原とSSDM Awardを共同受賞したことについても述べておられます。 The world’s first successful operation of a SiC-MOSFET in 1986 was accomplished through the proactive efforts of Mr. Kentaro Shibahara, then a doctoral student, marking a landmark achievement in the field. In his own written contribution, Professor Hiroyuki Matsunami (Professor Emeritus, Kyoto University), who led the laboratory, expressed his deep respect and explicitly stated that the fabrication and operational demonstration of this device were a groundbreaking success solely realized by Mr. Shibahara’s dedicated efforts. Professor Matsunami also noted that they jointly received the SSDM Award in 2005 for their work on step-controlled epitaxy, the field’s greatest milestone.
芝原健太郎君の歩んだ道 The Path of Kentaro Shibahara 松波弘之(京都大学名誉教授) Hiroyuki Matsunami, Professor Emeritus, Kyoto University 2011年10月10日 October 10, 2011
SiCのデバイス化に向けて:基板上へのβ-SiC単結晶成長と不純物添加 Toward SiC Device Fabrication: Single-Crystal Growth of β-SiC on Substrates and Doping
世界初のSiC-MOSFET実現と博士論文:IEDL掲載による動作実証の記録 World’s First Demonstration of SiC-MOSFET Operation and Publication in IEEE EDL
この段階で、 CVD (Chemical vapor Deposition)法による3C-SiC成長層の伝導度制御が可能になった。 必要とする半導体単結晶を制御性よく作るところまで来たから、これから先はデバイスということで、SiCを用いたMOSFET1(金属(M)-酸化膜(O) -半導体(S)電界効果トランジスタ(FET) の作製に挑戦して貰った。 幸いにも、ある会社から中古のイオン注入装置を寄付して貰うことができたので、イオン注入から挑戦と言うことになった。研究室では、全く経験のない装置で、多くの苦労があった。教室内2でもイオン注入技術に長けた人材は居なかった。他大学でイオン注入を手掛けていた研究者に相談をして、SiCの場合にどのようになるかを自ら解析して、注入条件を設定した。 何物にもめげず、前進あるものとの意気込みで研究に取り組み、1986 年にはMOSFETが実現した。世界初のMOSFET3であり、国内のSSDM (固体素子材料会議) 4でLate News5として発表してもらうとともに、IEEE Electron Device Lett.誌6に発表した。7 博士論文8は、これらをまとめて、「Epitaxial Growth Of SiC by Chemical vapor Deposition and Application to Electronic Devices」で1988年3月に工学博士を授与された。学位論文には、後述する「ステップ制御エピタキシー」9の基本が含まれている。
国際学会MRSで発表 Presentation at the MRS International Conference
1986年にSi上の3C-SiC10を用いて、世界初のMOSFETを作製した成果をもって、1987 年4月に米国アナハイムで開かれたMRS11(Materials Research Symposium)で発表12するために芝原君にとっては初めての国際会議に同行した。 UC (University of California) Santa Barbara 校を訪問した後、ヨセミテ公園を経由、サンフランシスコに着き、Stanford大学のDutton教授を訪問した。大学院生を引率しての初めての海外出張であり、緊張もしたが、芝原君がどのように感じたかは、詳しくは聞かなかった。
Cree Researchへの訪問:Dr. Palmour達との技術交流と評価 Technical Exchange at Cree Research and Professional Recognition from Dr. Palmour
North Carolina State Universityにて1987年5月1日。左から Kong夫妻、,John Palmour(博士課程),Carnegie Mellon UniversityのRobert.F.Davis教授、芝原健太郎、Das。これらの学生は卒業後Cree社を創業または就職した
John Edmondと芝原健太郎。John EdmondもCree社創業のメンバーとなった
SSDM Awardを受賞:京大時代に確立した「ステップ制御エピタキシー」の結実 Technical Exchange at Cree Research and Professional Recognition from Dr. Palmour
2005年4月にとても嬉しい連絡を受けた。京都大学が1987年にSSDM (固体素子材料国際会議)で発表した「Step-Controlled VPE Growth Of SiC Single Crystals at Low Temperatures17」by N. Kuroda, K. Shibahara’ w. Y00′ s. Nishino’ and H. MatsunamiがSSDM-2005で、表彰18されるというニュースであった。
IEEE Electron Device Lett.誌(EDL)・・・IEEE Electron Devices Society が発行する公式ジャーナル. 研究の新規性やインパクトが強く求められるトップクラスの速報誌として国際的に認知されている. ここに論文が掲載されることは、電子デバイス分野において非常に重要であり、研究者の評価やキャリアに大きな意味を持つ. IEEE(米国電気学会)は世界最大の技術者組織. ↩︎
Dr. John Palmour・・・米国の半導体研究者で、Cree(現 Wolfspeed)の共同創業者. 炭化ケイ素(SiC)半導体デバイスの開発を世界的に牽引した人物。2011年9月に開かれたSiCの国際学会ICSCRM2011で、世界で最初のSiC MOSFET作製の報告として芝原健太郎の3C-SiC MOSFETを紹介した。 ↩︎
SSDM Award 2005(2005年授与のSSDM賞)・・・SSDM賞は、過去の国際固体素子・材料コンファレンス(SSDM)で発表された研究の中から、半導体や材料分野の発展に大きく貢献した優れた論文や研究者を1年に1件だけ表彰する賞. 「SSDM賞受賞」「証言記録 ステップ制御エピタキシー」↩︎
著者の 5人(黒田、芝原、兪、西野、松波) ・・・黒田尚孝、芝原健太郎、Woo sik Yoo(兪)、西野茂弘、松波弘之(敬称略) ↩︎
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