SSDM Award : 国際学会SSDMで発表された過去(1969年の第1回から数年前まで)の論文の中から、年に1件だけ表彰されるたいへん栄誉な賞。SSDMは「International Conference on Solid State Devices and Materials」の略。 半導体や固体デバイス・材料分野における世界的権威のある国際学会↩︎
IEEE Electron Device Lett.誌(EDL)に掲載: 掲載された論文…K. Shibahara, T. Saito, S. Nishino, and H. Matsunami, “Fabrication of inversion-type n-channel MOSFETs using cubic SiC on Si(100)”, IEEE Electron Device Lett.,7 (1986) 692-693.[DOI: 10.1109/EDL.1986.26522] 記事「芝原健太郎|世界初の反転型SiC-MOSFET動作実証― IEEE EDL掲載(1986)」 IEEE Electron Device Lett.誌(EDL)は、IEEE Electron Devices Society が発行する公式ジャーナル. 研究の新規性やインパクトが強く求められるトップクラスの速報誌として国際的に認知されている. ここに論文が掲載されることは、電子デバイス分野において非常に重要であり、研究者の評価やキャリアに大きな意味を持つ. IEEE(米国電気学会)は世界最大の技術者組織. ↩︎
ステップ制御エピタキシー実現につながった:ステップ制御エピタキシーを初めて発表したExtended Abstract)のIntroductionには「最近、我々はSi(100)基板にオフ角(傾斜角)を導入することが、アンチフェーズドメイン(逆位相領域)を排除するのに有効であることを見出しました5-6)」*と書かれている。参考文献としてこの論文があげられている。 参考文献5 : K. Shibahara, S. Nishino, and H. Matsunami, “Antiphase-domain-free growth of cubic SiC on Si(100)”, Appl. Phys. Lett., 50 (1987) 1888-1890. [DOI: 10.1063/1.97676] 参考文献6: K. Shibahara, T. Saito, S. Nishino, and H. Matsunami, “Inversion-type N-channel MOSFET Using Antiphase-domain Free Cubic-SiC Grown on Si(100)”, Extended Abstracts of the 18th International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 1986), Tokyo, pp. 717–718, 1986. また、参考文献4として、K. Shibahara, S. Nishino, and H. Matsunami, “Surface-morphology of cubic SiC(100) grown on Si(100) by chemical vapor deposition”, J. Crystal Growth 78 (1986) 538-544. [DOI: 10.1016/0022-0248(86)90158-2] もあげられている。 *原文では”Recently, we found that off orientation of Si(100) substrates was effective to eliminate antiphase domains5-6).” と書かれている。↩︎